该数据集聚焦石墨烯基导热薄膜低能耗制备与性能研究，包含 GO、RGO-HI、RGO-1600、RGO-2600 四类薄膜 (002) 晶面 XRD 定量数据，统一收录 2θ 衍射角与四组样品对应衍射强度。 实验依托改良 Hummers 法制备氧化石墨烯，依次开展碘化氢液相预还原、1600℃碳化、2600℃焦耳热快速石墨化多道工序，通过 X 射线衍射定量分析各工艺对片层间距、晶格有序度、缺陷密度的调控规律。 数据完整记录薄膜从高度氧化无序向标准石墨晶体转变的全过程，区别于仪器原始图谱，是四组样品按相同2θ 步长对齐重采样后形成的结构化数据集，构建了涵盖从高度氧化无序到接近标准石墨晶体完整演变链条的横向对比数据集，实现了对石墨化进程的数字化标定，避免人工对比多张谱图的误差。通过统一格式对比，可量化 2600℃焦耳热相对于 1600℃碳化在层间距缩短上的增益，支撑低能耗工艺优化与构效关系分析。 本数据集有两大特点：1.数据记录完整，呈现了薄膜从高度氧化无序状态向接近标准石墨晶体状态转变的完整结构演变过程；2.数据处理有创新性，非仪器原始图谱，而是将四组数据按相同步长对齐重采样后形成的结构化数

数据集加工过程中的特定规则包括： 1.四组样品因测试过程存在微小机械误差，通过三次样条插值法将所有数据重采样归化至0.02066°等步长坐标，确保多组数据在同一衍射角下可直接做差值、积分等数学运算； 2.使用 Origin2022 软件自动拟合衍射峰轮廓，通过布拉格公式 2dsinθ=nλ 精确计算层间距，软件直接提取半高宽 FWHM 数值，其中n是衍射阶数（n=1、2、3……，通常取1），λ是入射X射线的波长（铜靶Kα，0.15406 nm）； 3.将四个独立样品的衍射数据按工艺还原程度（GO→RGO-HI→RGO-1600→RGO-2600）进行逻辑排序，形成可直观反映石墨化进程的结构演变数据链。 创新数据整合优势：构建统一格式横向对比数据集，数字化标定石墨化进程，消除多张独立谱图人工对比误差，可量化不同热处理工艺对层间距的调控差异。 申明：整套实验由华南理工大学化学与化工学院实验室独立完成，无外购、外协测试数据；数据集仅包含材料晶体结构测试参数，不涉及任何人脸、身份、通信等个人信息，无需开展匿名化、去标识化脱敏处理；全部原始衍射图谱、实验记录、论文原文均作为附件留存，可随时溯源核

1.工业研发场景：面向微电子高密度散热石墨烯导热膜开发，定量对比化学还原、中温碳化、焦耳热高温石墨化的晶格缺陷修复能力，量化不同温度层间距压缩效果，支撑低能耗、短周期石墨化新工艺优化，解析碳基薄膜晶体结构与导热、导电、柔性力学性能的构效关系，服务航天、消费电子热管理新材料研发与竞品工艺对标、生产成本优化； 2.高校科研教学场景：可供材料、化工专业师生复现实验、开展石墨烯改性相关课题研究，作为同类石墨烯薄膜制备工艺横向对比基准，数据复用性强，满足科研复现、工艺验证等学术研究需求。

衍射角 (2θ, °) GO衍射强度 (a.u.) RGO-HI衍射强度 (a.u.) RGO-1600衍射强度 (a.u.) RGO-2600衍射强度 (a.u.) 5 36.42 28.61 17.58 13.25 5.0207 33.94 21.6 20.53 16.99 5.0413 37.15 22.06 18.35 12.77

数据表命名为石墨烯薄膜 XRD (002) 衍射特征参数表，共包含5个字段：衍射角、GO的衍射强度、RGO-HI的衍射强度、RGO-1600的衍射强度、RGO-2600的衍射强度。衍射角作为数据表索引键，取值范围为5°至89.9927°，共4114个取值点；四组强度数据分别对应四个工艺阶段样品的衍射信号，各字段取值均为数值类型。