广东省数据知识产权存证登记平台
登记信息
电气参数全工况测试加工数据集 已登记
  • 数据申请号:

    粤2026090805489

  • 数据登记号:

    SZ2026120009395.6

  • 关键词:

    车规级功率驱动芯片、电气参数、CP/FT测试、良率分析、AECQ

  • 登记时间:

    2026-10-01

  • 平台证书编号:

    20260944000009395

  • 数据处理者:

    暂无

  • 服务机构:

    北京集佳知识产权代理有限公司

  • 登记主体:

    广东鸿翼芯汽车电子科技有限公司

  • 法院编号:

    广州互联网法院 - a56c09293d923a4ae875bfd13a38ede2135fa80f231fa985b938bd4f1858528b-749fc1a4;legalxchain

区块链信息
  • 上链时间:

    2026-09-14

  • 所属区块链:

    司法联盟链·广东省知识产权保护中心

  • 证据指纹:

    4b17c4a46b07015d498915180bd8851110533927a97eaa928ccff0d01724a994a396727945123b7769981515bc26cf1da19f422a4d5c2e0191c1d22ba4ba2fd3

  • 区块链存证证书编号:

    LXM-GDIPI-23202609146172538516

数据信息
数据简介
电气参数全工况测试加工数据集由广东鸿翼芯汽车电子科技有限公司自主设计开发,面向车规级功率驱动芯片的CP/FT测试与质量管控场景。数据集来源于公司委托ATE测试厂商对车规级功率驱动芯片进行全参数扫描测试所采集的原始数据,经公司研发团队依据产品规格书、AEC-Q车规标准及ISO 26262功能安全ASIL-B等级要求,制定各测试项目的标准上下限,并通过内部数据管理系统自动判定,形成样品编号、测试项目、单位、标准限值及Pass/Fail判定结果等结构化数据。数据格式为xls,按批次更新,内容仅涉及芯片电气参数,不含个人信息。 该数据集主要用于公司内部芯片设计验证、生产过程管控、良率分析、质量追溯及功能安全符合性验证,可帮助识别测试环境异常、剔除隐患产品、改进生产工艺,并为满足下游Tier1/OEM厂商对AEC-Q和ISO 26262标准的要求提供数据依据。其运用价值在于提升车规级芯片测试判定效率与质量可靠性,支撑产品研发迭代和批量生产一致性管理,具有较高的自用价值和行业应用价值。
  • 数据来源:

    自行产生

  • 数据所属行业分类:

    C39 计算机、通信和其他电子设备制造业

数据处理规则说明
数据来源为鸿翼芯自主研发的车规级功率驱动芯片,在CP/FT测试阶段委托ATE厂商执行全参数扫描测试。ATE机台输出两类原始数据:电气参数测试值(如Curr_I_Post、OSC_F_Post等)和保障测试环境准确性的引脚电阻值(如Kelvin_GND、Kelvin_VM等,单位ohm)。原始数据仅为测试数值,不具备直接判定意义。 加工规则:研发团队依据产品规格书、AEC-Q车规标准及ISO 26262 ASIL-B要求,为各测试项目制定标准上下限(如Kelvin_VM下限0.1ohm、上限10ohm)。采用规则引擎+阈值判定算法,将各样品实测值与标准限值逐项比对,自动生成判定结果;采用SPC统计过程控制算法计算数据方差、标准差、均值、最大值、最小值、CPL、CPU、CPK等指标,识别异常波动或数据分布趋势以提早规避隐患样品及改善数据一致性;结合良率分析模型,按批次、测试项目、样品编号汇总良率并定位异常。 合规处理:委托ATE厂商依约采集,权属清晰;数据仅为芯片电气参数,不含个人信息;加工均基于技术指标;数据内部存储,权限管控,不对外共享,无合规风险。
应用场景描述
用于支撑公司内部芯片设计验证、生产过程管控的良率分析、质量追溯,以及为满足下游Tier1/OEM厂商对AEC-Q和ISO 26262标准的功能安全要求提供内部数据依据。
  • 数据格式:

    xlsx

  • 数据更新频率:

    其他

  • 数据量:

    1000

样例数据
请查看附件 附件下载
数据结构样例
本数据集名为电气参数全工况测试加工数据集,数据格式为xlsx,数据集的字段主要包括:序号采用整数类型,样品唯一编号;测试项目为文本类型,记录具体的测试项目名称;单位为文本类型,说明每个测试项目的物理单位;标准下限与标准上限,均为浮点数类型,分别表示每个测试项目的规格界限,用于判定样品是否合格;样品编号/判定结果为文本类型,记录该样品的整体测试结果(Pass/Fail);方差为浮点数类型,衡量数据离散程度;标准差为浮点数类型,为方差的算术平方根,与原始数据同量纲,衡量离散程度;均值为浮点数类型,反映数据集中趋势;最大值为浮点数类型,记录数据集中的最大测试值;最小值为浮点数类型,记录数据集中的最小测试值;CPL为浮点数类型,表示过程能力下限指数,计算公式为(均值−标准下限)/(3×标准差);CPU为浮点数类型,表示过程能力上限指数;CPK为浮点数类型,取CPL与CPU较小值,综合反映过程能力;以及1至1000的样品列,为浮点数或文本类型,记录每个样品在对应测试项目上的具体数值或结果。
数据状态
  • 2026-10-01

    数据知识产权登记完成